Una nueva técnica mejora la capacidad de los microscopios de fuerza atómica

• El CSIC perfecciona los microscopios para el mundo nanoscópico
• La técnica consiste en finas puntas que recorren una superficie a observar

Comparativa de lo que permite ver la nueva técnica para microscopios de fuerzas

Existen objetos muy, muy pequeños, que no se pueden ver a través del microscopio convencional. Son objetos del mundo nanoscópico para los que se ha desarrollado la microscopía de fuerza atómica, una herramienta capaz de detectar fuerzas del orden de piconewtons (la trillonésima parte de un newton). El Centro Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) ha perfeccionado la herramienta gracias a una nueva técnica que han desarrollado.

La mejora, patentada por el CSIC, consiste en el depósito de nanopartículas de composición química y tamaño controlados sobre las sondas ya existentes para la microscopía de fuerza atómica. La patente se ha licenciado a través de una empresa spin off de la institución, Next-Tip.

El investigador del Instituto de Ciencias de Materiales de Madrid del CSIC, Yves Huttel, responsable del desarrollo, explica: “Los estudios han mostrado que las nanopartículas depositadas actúan como sondas efectivas y que cuando más pequeñas son, mejor es la resolución en microscopía”.

Las sondas de microscopía de fuerza atómica son uno de los elementos fundamentales para el funcionamiento de este tipo de microscopios. Consisten en finísimas puntas que recorren la superficie a observar. La interacción entre la punta y el medio de estudio es la que ofrece la información sobre la superficie en cuestión. La técnica del CSIC añade, por tanto, las nanopartículas de tamaño y composición determinada a la superficie de esta punta.

Huttel indica que “el material que compone las nanopartículas se puede ajustar a las necesidades de la observación que se quiera realizar”. Además, el investigador del CSIC asegura que “las sondas fabricadas han demostrado ser más resistentes al desgaste, lo que les confiere un atractivo especial para medidas en entornos extremos, como los de bajas temperaturas, ultra alto vacío y en test de calidad en cadenas de producción, donde la fiabilidad es un factor importante”.

La tecnología desarrollada por Huttel y su equipo representa, según sus palabras, “una alternativa a la fabricación de sondas de microscopía para medidas con alta resolución y además con costes reducidos”.